美國MAS粒度Zeta電位分析儀

美國MAS粒度Zeta電位分析儀

Zeta電位測量方法有哪些？

  Zeta電位又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是指剪切面(Shear Plane)的電位，是表征膠體分散系穩定性的重要指標。

  由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子，這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態分布而形成擴散雙電層。根據Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分，即Stern層和擴散層。當分散粒子在外電場的作用下，穩定層與擴散層發生相對移動時的滑動面即是剪切面，該處對遠離界面的流體中的某點的電位稱為Zeta電位或電動電位（ζ-電位）。即Zeta電位是連續相與附著在分散粒子上的流體穩定層之間的電勢差。它可以通過電動現象直接測定。

測量Zeta電位的方法主要有：

電泳法-當電場施加于電解質時，懸浮在電解質中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極，作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運動。當這兩種對抗力達到平衡時，粒子以恒定的速度運動，我們一般稱這個速度通為電泳遷移率。

電滲法-單位場強下的液體移動速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢成簡單的正比關系，所以可以利用電滲來測量ξ電勢，但此法只限于能形成毛細管或多孔介質的材料。

流動電位法-流動電勢是指當電解質溶液在一個帶電荷的絕緣表面流動時，表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動方向運動，這些帶電荷粒子的運動導致下游積累電荷，在上下游之間產生電位差就是流動電勢。

超聲電聲法-在膠體溶液兩側施以電壓，帶點粒子運動會產生聲波，測量所產生的聲波，就可以計算顆粒的動態遷移率，后通過計算得到Zeta電位

美國MAS粒度Zeta電位分析儀

典型應用：

綜合穩定水泥漿，陶瓷，化學機械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環境保護禪選法礦物富集，食品工業，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。

主要特點：

1）能分析多種分散物的混合體；

2）無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點；

3）可適用于高導電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質及對樣品污染的干擾；

5）可精確測量無水體系；

6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；

7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；

8）具有自動電位滴定功能；

優于光學方法的技術優勢：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質及對樣品污染的干擾；

3)不需定標；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度；

6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

美國MAS粒度Zeta電位分析儀

優于electroactics方法的技術優勢：

1)無需定標；

2)能測更寬的粒徑范圍；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

6)可適用于無水體系；

7)可適用于高導電(highly conducting)體系；

優于微電泳方法的技術優勢：

1)無需稀釋，固合量高達60%；

2)可排除雜質及對樣品污染的干擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測量；

6)對流(convection)不影響測量；

7)可精確測量無水體系；

技術參數：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000µm；

2)可測量參數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電位測量范圍：+/-500 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數)；

6)樣品體積：30-230ml；

7)PH范圍：0~14;

8)電導率范圍：0~10 s/m